東京精密独自の高速専用アルゴリズムDEAPを搭載した、ナノレベルの表面性状を測定する非接触三次元粗さ・形状測定機Opt-scopeシリーズ。このたびシリーズに新たに加わった特殊対応大型タイプOpt-scope Rexは、高精度に測定できるだけでなく、電動XYステージの駆動範囲を400mm角まで拡張（最大600mm角まで対応可）したことで、より広範囲の表面性状評価を実現します。測定ワークのサイズが大ききい傾向にある、半導体・半導体製造装置部品・金型などの測定にご活用いただけます。 本セミナーでは新製品Opt-scope Rexを中心に測定原理、他測定原理との比較、新機能、実際の活用例等をご紹介いたします。

ZEISS METROTOMは、三次元座標測定機で培われた各軸の制御技術と超高精度位置決めステージ、高解像度フラットパネルデテクタ、ソフトウェアCalypso CT & GOM Volume Inspectを採用するなど、これまでの観察用X線CTとは一線を画すDimensional X線CTです。本セミナーでは構造解析、機能検査、欠陥解析等の非破壊検査に加え、樹脂成形部品やアルミダイカスト等、複雑な工業製品の内部形状の構造比較や内外寸法の高精度な計測まで、適用事例をまじえながらご紹介いたします。弊社ショールームMETROTOM前よりLIVE配信される最新のソリューションを是非この機会に御覧ください。